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紫外光譜基線校正是確保光譜分析準確性的重要步驟。

以下是基線校正的方法：

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儀器參數(shù)設置：在進行基線校準前，應確認儀器參數(shù)的正確性，如波長范圍、通量、帶寬等，這些參數(shù)應根據(jù)待測物質的特性來設定。

基線掃描：在基線校準前，應首先進行基線掃描，收集基線的數(shù)據(jù)，以便后續(xù)的校準工作。

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基線校正方法：

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手動校正：這種方法需要手動選擇基線的調整點，通常是濾光片上的信號最弱波長點，并通過光譜儀的軟件進行調整。手動校正的優(yōu)點是簡便，但缺點是由于操作者的操作技巧不同，校正點的平均值可能會有差異。

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自動校正：這種方法的優(yōu)點是高精度，它減少了對人工操作的依賴，通過軟件自動計算波長和強度值來進行校正。然而，自動校正需要定期校對，以防“垃圾”信號的干擾。

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注意事項：

基線掃描的波長范圍應覆蓋待測物質的特征吸收峰，以保證數(shù)據(jù)的準確性。

在手動校正過程中，應注意保持基線的平滑度，避免與待測物質的信號重疊。

如果出現(xiàn)異常數(shù)據(jù)，可以考慮重啟儀器并進行重新校準。

其他數(shù)據(jù)處理技術：除了基線校正，還有其他數(shù)據(jù)處理技術，如波長校準、數(shù)據(jù)平滑處理、峰高等。